白光干涉仪MT-W1系列

最高精度0.1nm / 自动对焦 / 自动调平

粗糙度

微观形貌

台阶高度

平面度

MT-W1白光干涉仪通过干涉条纹解析，可实现纳米级分辨率的三维形貌表征，精准捕捉样品表面的高度差、粗糙度、台阶高度、膜厚等关键参数，为精密制造与前沿科研提供可靠的微观分析依据。应用场景覆盖半导体晶圆、MEMS 器件、精密光学元件、精密加工件、涂层材 料等多个领域。

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